如何解決SAM檢測中的圖像干擾問題？

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杭州芯紀源半導體設備有限公司2025-09-24

圖像干擾常由探頭氣泡、工件表面不平或參數設置錯誤導致。解決方法包括：擦除探頭凹面氣泡；磨平工件表面；調整觸發窗位置以避免多波形干擾。例如，工件傾斜會導致部分信號減弱，重新擺放工件后，圖像完整性可恢復至95%以上。

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簡介：杭州芯紀源成立于 2024 年，融合聲、光及 AI 算法，專注半導體檢測設備研發制造，提供超聲檢測。

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