（1）電子光學系統。電子束直徑0.1～1μm，電子束穿透深度1～3μm。被激發原子發射特征X射線譜過程如下：圍繞原子核運動的內層電子，被電子束的電子轟擊后，其他外層電子為補充轟擊出的電子而發生躍遷，在躍遷過程中釋放出能量，即發射出X射線。（2）X射線譜儀。測量各種元素產生的X射線波長和強度，并以此對微小體積中所含元素進行定性和定量分析。特征X射線圖像顯像管的原理是：X射線束入射到一已知晶面間距的晶體上（X射線分光光度計的彎曲晶體上），經衍射后各種波長的X射線按不同的布拉格角彼此分開，因此如轉動晶體，改變衍射角，同時以兩倍于晶體的轉速轉動計數器，就可以依次測量出各種元素所產生的X射線波長和強度，達到定性和定量分析的目的。能進行現場分析。無需把分析對象從樣品中取出，可直接對大塊試樣中的微小區域進行分析。青浦區標準探針推薦貨源

***臺電子探針是法國制成的，是在1949年用電子顯微鏡和X射線光譜儀組合而成。1953年前蘇聯制成了X射線微區分析儀，以后英、美等國陸續生產。***臺掃描電子探針儀是美國于1960年制成，不僅能對試樣作點或微區分析，而且能對樣品表面微區進行掃描。原子序數12至22的元素要在真空下進行成分測定，原子序數12以內的元素需要增添一些特殊設備才能分析。原子序數50以上的元素用L系X射線光譜進行分析，原子序數50以下的元素也可以分析，如Sn（50）可用K系x射線光譜進行分析。 [2]虹口區品牌探針推薦貨源不隨意安裝非正規商家應用App、及各類廣告插件App,使用正規合法App是保護個人信息;

電子探針（Electron Probe Microanalysis）是一種利用電子束作用樣品后產生的特征X射線進行微區成分分析的儀器， [1]可以用來分析薄片中礦物微區的化學組成。除H、He、Li、Be等幾個較輕元素外，還有U元素以后的元素以外都可進行定性和定量分析。電子探針的大批量是利用經過加速和聚焦的極窄的電子束為探針，激發試樣中某一微小區域，使其發出特征X射線，測定該X射線的波長和強度，即可對該微區的元素作定性或定量分析。電子探針顯微分析原理及其發展的初期是建立在X射線光譜分析和電子顯微鏡這兩種技術基礎上的，該儀器實質上就是這兩種儀器的科學組合。

安全**介紹，WiFi探針盒子確實可以通過技術手段獲取個人信息，用戶為避免信息泄露，可以在出門后關閉手機連接WiFi的功能，并不要在一些不合規的APP上提供真實個人信息。律師表示，利用探針盒子獲取他人手機號等隱私信息的行為涉嫌侵犯他人隱私，可能面臨民事侵權責任及治安管理處罰責任。實現原理1. WiFi信道掃描工具WiFi探針實現原理示意圖這種神秘的Wi-Fi探針,實際是“WiFi信道掃描工具”。市面上的WiFi有2.4G、5G兩個頻段,每個頻段有不同的信道劃分,Wi-Fi探針設備通過在各個信道被動監測,采集周圍的數據幀內容,發現周邊手機、筆記本、路由器等無線設備,從而滿足客流統計、精細營銷等需求。此外,這種“Wi-Fi信道掃描工具”處于被動監測模式,無需用戶主動連接某個WiFi,*需打開手機WiFi功能時即可捕獲。這種神秘的Wi-Fi探針,實際是“WiFi信道掃描工具”。

利用電子探針分析方法可以探知材料樣品的化學組成以及各元素的重量百分數。分析前要根據試驗目的制備樣品，樣品表面要清潔。用波譜儀分析樣品時要求樣品平整，否則會降低測得的X射線強度。定性分析1 點分析用于測定樣品上某個指定點的化學成分。下圖是用能譜儀得到的某鋼定點分析結果。能譜儀中的多道分析器可使樣品中所有元素的特征X射線信號同時檢測和顯示。不像波譜儀那樣要做全部譜掃描，甚至還要更換分光晶體。2 線分析用于測定某種元素沿給定直線分布的情況。方法是將X射線譜儀（波譜儀或能譜儀）固定在所要測量的某元素特征X射線信號（波長或能量）的位置上，把電子束沿著指定的方向做直線軌跡掃描，便可得到該元素沿直線特征X射線強度的變化，從而反映了該元素沿直線的濃度分布情況。改變譜儀的位置，便可得到另一元素的X射線強度分布。下圖為50CrNiMo鋼中夾雜Al2O3的線分析像。可見，在Al2O3夾雜存在的地方，Al的X射線峰較強。利用探針盒子獲取他人手機號等隱私信息的行為涉嫌侵犯他人隱私，可能面臨民事侵權責任及治安管理處罰責任。金山區標準探針推薦貨源

電子探針和掃描電鏡在電子光學系統的構造基本相同，它們常常組合成單一的儀器。青浦區標準探針推薦貨源

在不損耗試樣的情況下，電子探針通常能分析直徑和深度不小于1微米范圍內、原子序數4以上的所有元素；但是對原子序數小于12的元素，其靈敏度較差。常規分析的典型檢測相對靈敏度為萬分之一，在有些情況下可達十萬分之一。檢測的***靈敏度因元素而異，一般為10-14～10-16克。用這種方法可以方便地進行點、線、面上的元素分析，并獲得元素分布的圖象。對原子序數高于10、濃度高于10%的元素，定量分析的相對精度優于±2%。電子探針儀是 X射線光譜學與電子光學技術相結合而產生的。1948年法國的R.卡斯坦制造了***臺電子探針儀。1958年法國首先制造出商品儀器。電子探針儀與掃描電子顯微鏡在結構上有許多共同處。70年代以來生產的電子探針儀上一般都帶有掃描電子顯微鏡功能，有的還附加另一些附件，使之除作微區成分分析外，還能觀察和研究微觀形貌、晶體結構等。青浦區標準探針推薦貨源

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