掃描電鏡簡寫為 SEC,是一種新型的電子光學儀器。由真空系統，電子束系統以及成像系統三大部分組成。它是利用細聚焦電子束在樣品表面掃描時激發出來的各種物理信號來調制成像的。入射的電子導致樣品表面被激發出次級電子。顯微鏡觀察的就是這些每個點散射出來的電子，放在樣品旁的閃爍晶體接收這些次級電子，通過放大后調制顯像管的電子束強度，改變顯像管熒屏上的亮度。顯像管的偏轉線圈與樣品表面的電子束保持同步掃描，這樣顯像管的熒光屏就顯示出樣品表面的形貌圖像。光學顯微鏡是比較普遍的一個顯微鏡。廣州FPD檢查顯微鏡使用方法

顯微鏡使用的注意點：禁止單手提拿顯微鏡和隨意拆卸零部件，需按使用說明書或SOP規范操作；低倍下調焦時先上升載物臺（或下降鏡筒），再緩慢下降載物臺或上升鏡筒，使物鏡鏡頭與玻片距離由小到大調焦。一般直接轉換成高倍鏡后細調焦距；觀察標本時兩眼應同時睜開，避免使用單只眼觀察；調節合適的光圈和電流強度可使成像更清晰；如果使用100×油鏡，應在標本上滴一滴香柏油，使鏡頭底端與該介質接觸。觀察完后及時用二甲苯擦拭油鏡頭。注意其它鏡頭不得接觸香柏油。深圳STM7-BSW測量顯微鏡顯微鏡的主要光學部件都由透鏡組合而成。

顧名思義，電子顯微鏡使用電子成像，就像光學顯微鏡利用可見光成像。一臺成像設備的分辨率主要取決于介質的波長。由于電子的波長比光波長小得多，電子顯微鏡的分辨率要優于光學顯微鏡。實際上通常超過1000 倍。電子顯微鏡有兩種主要的類型：透射電子顯微鏡（TEM），它探測穿過薄樣品的電子來成像；掃描電子顯微鏡（SEM），它利用被反射或撞擊樣品的近表面區域的電子來產生圖像。我們著重講述掃描電鏡 SEM。在這種的電子顯微鏡中，電子束以光柵模式逐行掃描樣品。首先，電子由腔室頂端的電子源（俗稱燈絲）產生。電子束發射是因為熱能克服了材料的功函數。他們隨后被加速并被帶正電的陽極所吸引。

齊焦既是在鏡檢時，當用某一倍率的物鏡觀察圖象清晰后，在轉換另一倍率的物鏡時，其成象亦應基本清晰，而且象的中心偏離也應該在一定的范圍內，也就是合軸程度。齊焦性能的優劣和合軸程度的高低是顯微鏡質量的一個重要標志，它是與物鏡的本身質量和物鏡轉換器的精度有關。現代顯微物鏡已達到高度完善，其數值孔徑已接近極限，視場中心的分辨率與理論值之區別已微乎其微。但繼續增大顯微物鏡視場與提高視場邊緣成象質量的可能性仍然存在，這種研究工作，至今仍在進行。顯微物鏡與目鏡在參于成象這點上是有區別的。物鏡是顯微鏡復雜和重要的部分，在寬光束中工作(孔徑大)，但這些光束與光軸的傾角較小(視場小)；目鏡在窄光束中工作，但其傾角大（視場大）。當計算物鏡與目鏡，在消除象差上有很大差別。與寬光束有關的象差是球差、慧差以及位置色差；與視場有關的象差是象散、場曲、畸變以及倍率包差。顯微物鏡是一消球差系統。這意味著：就軸上的一對共軛點而言，消除了球差并且實現了正弦條件時，每一物鏡只有兩個這種消球差點。因此，物體與象的計算位置的任何改變均導致象差變大。顯微鏡各光學部件都直接決定和影響光學性能的優劣。

顯微鏡是一個非常籠統的叫法。很多顯微鏡名字很類似，但工作原理區別很大。很多顯微鏡名字不一樣，其實原理基本相同。光學顯微鏡：就是我們初中就用過的普通顯微鏡，通過光學鏡片提升垂軸放大率。熒光顯微鏡：原理與光學顯微鏡類似，不同之處在于用的光一般是單色激光，樣品受激光照射后發出波長更長的光激光共聚焦顯微鏡：在熒光顯微鏡基礎上加上共聚焦技術，即通過樣品反射光在顯微鏡中的像點。共聚焦技術是逐點成像，速度較慢，但可以自動聚焦，測量樣品表面不平整。金相顯微鏡：基本就是光學顯微鏡，主要用于看金屬晶格結構，巖石結構等，地質和金屬材料用的比較多，這個就是根據用途起了一個名字。顯微鏡光學系統的設計有三種光學系統。深圳DSX1000數碼顯微鏡解決方案

顯微鏡低倍下調焦時先上升載物臺，再緩慢下降載物臺或上升鏡筒，使物鏡鏡頭與玻片距離由小到大調焦。廣州FPD檢查顯微鏡使用方法

使用顯微鏡高倍物鏡之前，必須先用低倍物鏡找到觀察的物象，并調到視野的正中間，然后轉動轉換器再換高倍鏡。換用高倍鏡后，視野內亮度變暗，因此一般選用較大的光圈并使用反光鏡的凹面，然后調節細準焦螺旋。觀看的物體數目變少，但是體積變大。整理:實驗完畢，把顯微鏡的外表擦拭干凈。轉動轉換器，把兩個物鏡偏到兩旁，并將鏡筒緩緩下降到較低處，反光鏡豎直放置。之后把顯微鏡放進鏡箱里，送回原處。電子顯微鏡和光學顯微鏡的區別主要有以下五點：光學顯微鏡（以下簡稱光鏡）使用可見光作為光源，而電子顯微鏡（以下簡稱電鏡）利用高能短波長電子束代替可見光。光鏡的聚焦鏡使用光學學鏡片，電鏡則使用電磁透鏡。成像系統不同。放大倍數不同，光鏡一般較大能放大到2000x，電鏡則可高達數十萬倍。光鏡只能觀察到表面微細結構，電鏡可獲取晶體結構、微細組織、化學組成、電子分布情況等。廣州FPD檢查顯微鏡使用方法