在光學顯微鏡的發展過程中，相襯鏡檢術的發明成功，是近代顯微鏡技術中的重要成就。我們知道，人眼只能區分光波的波長（顏色）和振幅（亮度），對于無色通明的生物標本，當光線通過時，波長和振幅變化不大，在明場觀察時很難觀察到標本。相襯顯微鏡利用被檢物體的光程之差進行鏡檢，也就是有效地利用光的干涉現象，將人眼不可分辨的相位差變為可分辨的振幅差，即使是無色透明的物質也可成為清晰可見。這極大便利了胞的觀察，因此相襯鏡檢法普遍應用于倒置顯微鏡中。相襯鏡檢法在裝置上與明場不同，有一些特殊要求：a.環狀光闌（Ringslit）:裝在聚光鏡的下方，而與聚光鏡組合為一體---相襯聚光鏡。它是由大小不同的環形光闌裝在一圓盤內，外面標有10X、20X、40X、100X等字樣，與相對應倍數的物鏡配合使用。如果是油跡或者是手指印，可以用蘸有少許比例的混合液的棉紗輕柔的抹去。廣州尼康LV150NA顯微鏡廠商

原子力顯微鏡使用超微針尖靠近樣品表面，樣品表面與針尖的原子間相互作用力使得針尖所在的懸臂發生微小形變，被放大測量后轉化成樣品表面形貌的信息。橫向分辨率能夠達到納米量級，其分辨率極大依賴于探針工藝的精細程度，若以較先進的碳納米管做探針，橫向分辨率則能突破埃量級。原子力顯微鏡除了用于樣品表面形貌成像外，還是顯微操作的重要工具，對針尖表面進行修飾后可以于待測量的分子特異性相互作用，并進行拉伸，擠壓等操作，對其力學性質進行測量。廣東電子顯微鏡廠光學顯微鏡一般由載物臺、聚光照明系統、物鏡，目鏡和調焦機構組成。

顯微鏡的使用方法：取鏡和安放：右手握住鏡臂，左手托住鏡座。把顯微鏡放在實驗臺上，略偏左（顯微鏡放在距實驗臺邊緣7厘米左右處）。安裝好目鏡和物鏡。對光:轉動轉換器，使低倍物鏡對準通光孔(物鏡的前端與載物臺要保持2厘米的距離)。把一個較大的光圈對準通光孔。左眼注視目鏡內(右眼睜開，便于以后同時畫圖)。轉動反光鏡，使光線通過通光孔反射到鏡筒內。通過目鏡，可以看到白亮的視野。觀察:把所要觀察的玻片標本（也可以用印有“6”字的薄紙片制成）放在載物臺上，用壓片夾壓住，標本要正對通光孔的中心。轉動粗準焦螺旋，使鏡筒緩緩下降，直到物鏡接近玻片標本為止（眼睛看著物鏡，以免物鏡碰到玻片標本）。左眼向目鏡內看，同時反方向轉動粗準焦螺旋，使鏡筒緩緩上升，直到看清物像為止。

真空系統：為了保證真在整個通道中只與試樣發生相互作用，而不與空氣分子發生碰撞，因此，整個電子通道從電子槍至照相底板盒都必須置于真空系統之內，一般真空度為10-4～10-7毫米汞柱。透射電鏡需要兩部分電源：一是供給電子槍的高壓部分，二是供給電磁透鏡的低壓穩流部分。電源的穩定性是電鏡性能好壞的一個極為重要的標志。所以，對供電系統的主要要求是產生高穩定的加速電壓和各透鏡的激磁電流。近代儀器除了上述電源部分外，尚有自動操作程序控制系統和數據處理的計算機系統。國內顯微鏡機械筒長度一般是160毫米。

場曲又稱“像場彎曲”。當顯微鏡透鏡存在場曲時，整個光束的交點不與理想像點重合，雖然在每個特定點都能得到清晰的像點，但整個像平面則是一個曲面。這樣在鏡檢時不能同時看清整個像面，給觀察和照相造成困難。因此研究用顯微鏡的物鏡一般都是平場物鏡，這種物鏡已經矯正了場曲。前面所說各種像差除場曲外，都影響像的清晰度。畸變是另一種性質的像差，光束的同心性不受到破壞。因此，不影響像的清晰度，但使像與原物體比，在形狀上造成失真。研究用顯微鏡的物鏡一般都是平場物鏡。廣州尼康LV150NA顯微鏡廠商

現在的光學顯微鏡可把物體放大1600倍，分辨的較小極限達波長的1/2。廣州尼康LV150NA顯微鏡廠商

掃描探針顯微鏡是一系列使用特殊探針與樣品進行逐點掃描，測量針尖與樣品之間的相互作用，采集其物理性質并獲得圖像的顯微鏡的統稱。代表性的顯微鏡有掃描隧道顯微鏡，原子力顯微鏡，近場光學顯微鏡等。如果說電子顯微鏡還有一點脫胎于光學顯微鏡的影子，那么掃描探針顯微鏡已經完全擺脫了“鏡”的束縛，發展出了了一條完全不同顯微技術的道路。掃描隧道顯微鏡是STM 使掃描針尖與樣品之間距離極近(1納米以內）并施加電壓，利用量子力學中的隧穿效應，使電子能夠穿過中間的真空區域形成電流，電流的大小反映了樣品對應位置的局域態密度，從而進行成像。STM可以在真空、大氣、 液體等多種條件下進行無破壞測, 量。目前橫向分辨率已經達到0.1納米。廣州尼康LV150NA顯微鏡廠商

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